QNIX4200/4500 涂層測厚儀

德國 QNIX4200/4500 測厚儀
是利用霍爾原理而設計的探頭與主機一體化金屬涂層測厚儀
只需較零，無需校準
零位穩定
4200Fe探頭，4500Fe/NFe探頭
獨特的直流采樣技術

技術參數：
磁性基體：Fe探頭（4200/4500） 非磁性基體 NFe探頭（4500）
測量范圍：Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
精度：0－50μm：≤±1μm，
50－1000μm：≤±1.5%，
1000－2000μm：≤±2%，
1000－3000μm≤±3%
*小接觸面：10mm×10mm
*小曲率：凸、凹半徑：3mm/25mm
*小基體厚度：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
溫度補償范圍：0-60度
顯示：LCD液晶
探頭：紅寶石固定式
電源：5號電池2節
尺 寸：110×60×27mm
重 量：110g