漆膜測厚儀影響因素

漆膜測厚儀影響因素

漆膜測厚儀適用于導磁材料，一般為鋼、銀、鎳。測量精度高。

漆膜測厚儀影響因素：

基體金屬磁性。

磁法測厚受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼磁性變化在實際應用中可視為輕微)。為避免熱處理和冷處理因素的影響，儀器校準應使用與試件基體金屬性質相同的標準片；也可用于校準涂層試件。

基體金屬電性質。

基體金屬的電導率與材料成分和熱處理方法有關，對測量有影響。使用具有相同性質的標準電影校準儀器。

基體金屬厚度。

每個儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。測量不受基體金屬厚度的影響。

邊緣效應

儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此，靠近試件邊緣或內角的測量是不可靠的。

曲率

試件的曲率對測量有影響。隨著曲率半徑的降低，曲率半徑顯著增加。因此，彎曲試件的表面測量是不可靠的。

試件的變形

測試頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測量可靠的數據。

表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會導致系統誤差和意外誤差。每次測量時，應在不同位置增加測量次數，以克服這種意外誤差。如果基體金屬粗糙，必須在粗糙度相似的基體金屬試件上檢查儀器零點；或者用對基體金屬無腐蝕的溶液溶解去除覆蓋層，然后檢查漆膜測厚儀零點。

磁場

各種電氣設備產生的強磁場會嚴重干擾磁法的測厚。